日時: |
2004年11月15日(月) 午後1時〜午後2時まで |
場所: | 遺伝子実験施設3階・画像解析室(レーザー顕微鏡前) |
担当: | カール ツァイス株式会社 マイクロスコープディビジョン アドバンスドマイクロスコープグループ 中村 竜 TEL:03−3355−0332 http://www.zeiss.co.jp |
対象者: | 施設利用登録者 |
受講料: | 無料 |
申込締切: | 締め切らせて頂きました |
内容: | 1.LIVE画像での多重蛍光や自家蛍光の分離表示機能 2.輝度分散図と画像間での双方向の解析表示機能 3.多重蛍光の共存部位の定量数値化機能 4.共存部位のみの抽出や、3D画像の作成機能 5.蛍光強度や強度比をイオン濃度への変換機能 6.進化したBleaching/FRAP機能 |
Ver3.2にアップグレードしたことにより、上記の機能が大幅に追加され、METAより高度な解析が簡単に行うことが出来るようになります。 参加希望の方は11月10日夕方5時までに遺伝子実験施設受付まで氏名・所属を明記し、ご連絡下さい。 なお、同日午後2時より生細胞を用いたFRETのデモを行いますので、興味のある方はご覧下さい(約2時間)。 |